Statystyczna kontrola procesów (SPC) i testowanie hipotez na danych z wniosków biznesowych. Weryfikujemy anomalie CNC-03, porównujemy wydajność zmian i budujemy karty kontrolne.
Karta kontrolna X̄ — defekty CNC-03
Średnia (X̄)
5.8%
12 obserwacji
Odch. std. (σ)
1.42%
Zmienność procesu
UCL (X̄+3σ)
10.1%
Górna granica kontrolna
LCL (X̄-3σ)
1.5%
Dolna granica kontrolna
Poza kontrolą
2 / 12
Punkty poza ±2σ
Karta kontrolna — defekty CNC-03 [%] (12 miesięcy)
Rozkład wydajności [szt/h]
Porównanie zmian (Box plot)
Test hipotezy — zmiana III vs zmiana I
Test t-Studenta dla dwóch prób niezależnych
H₀ (hipoteza zerowa)
μ₁ = μ₃
Średnia wydajność zmiany I = średnia wydajność zmiany III
H₁ (hipoteza alternatywna)
μ₁ > μ₃
Zmiana I ma wyższą wydajność niż zmiana III
X̄₁ (zmiana I)
38.2 szt/h
X̄₃ (zmiana III)
29.4 szt/h
Statystyka t
4.21
p-value
0.0008
α (poziom ist.)
0.05
Rozkład t — obszar krytyczny
Odrzucamy H₀ (p = 0.0008 < α = 0.05). Różnica wydajności między zmianą I (38.2 szt/h) a zmianą III (29.4 szt/h) jest statystycznie istotna.
Rekomendacja: program szkoleniowy PRJ-004.